场发射透射电子显微镜
型号规格：Talos F200X G2
购买日期：2020-12-23
设备分类：分析仪器
设备小类：显微镜及图像分析仪器
制造厂商：美国ThermoFisher公司
设备产地：捷克
仪器状态：内外部共享
设备原值：604万
实验地址：广东省东莞市大朗镇屏东路333号
服务价格(元/每小时)：1200
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检测技术服务
金属材料及制品检测服务-黑色金属冶炼及压延产品检测服务,非金属矿物制品检测服务-陶瓷制品检测服务,非金属矿物制品检测服务-其他非金属矿物制品检测服务
仪器可预约以下服务
用于金属、半导体、多层膜、二维材料等在纳米或原子尺度下的晶体结构表征和化学成分分析等：可实现TEM成像、HAADF/ADF/BF/iDPC-STEM成像、衍射等分析；可实现纳米尺度分辨的EDS能谱分析；可实现TEM模式、STEM模式和EDS模式的三维重构；配置原位样品杆可实现应力、高温和电压等外场下的材料微观结构的实时观察。
功能描述
用于金属、半导体、多层膜、二维材料等在纳米或原子尺度下的晶体结构表征和化学成分分析等：可实现TEM成像、HAADF/ADF/BF/iDPC-STEM成像、衍射等分析；可实现纳米尺度分辨的EDS能谱分析；可实现TEM模式、STEM模式和EDS模式的三维重构；配置原位样品杆可实现应力、高温和电压等外场下的材料微观结构的实时观察。
技术指标
配有肖特基热场发射电子枪； 分割式STEM探头和DPC/iDPC技术； 无窗口四探头Super-X超级能谱探测器； Ceta 16M相机； 3D重构成像系统，自动进行原始数据采集、对中、重构； 加速电压： 80kV，200kV（可选）。
TEM信息分辨率：0.12nm@200kV；
STEM点分辨率：0.16nm@200kV；
上机要求
工程师操作；
经工程师考核通过后可自行操作。
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