场发射扫描电子显微镜
型号规格：型号：ZEISS
规格：SIGMA500
购买日期：2019-07-28
设备分类：分析仪器
设备小类：显微镜及图像分析仪器
制造厂商：Carl Zeiss Microscopy Ltd
设备产地：英国
仪器状态：内外部共享
设备原值：385万
实验地址：松山湖大学创新城D2栋107
服务价格：面议
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检测技术服务
无
仪器可预约以下服务
材料微观结构形貌分析、元素分布及半定量EDS能谱分析。
功能描述
（1）金属、陶瓷、矿物、高分子、半导体、水泥、纸张、塑料、纤维、食品、牙膏、药物等样品的微观形貌观察及晶体结构分析。（2）材料断口、表面形貌、变形层等的观察。（3）金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定。（4）各种纳米粉末样品形态和粒径的测定。（5）材料微区化学成分的定性、定量分析，元素在材料表面的分布（点、线、面）分析。
技术指标
1、分辨率：二次电子像: 0.8nm/15kV；1.4nm/1kV，非样品台减模式；2、加速电压：0.0230kV；3、放大倍率：10300K；4、样品台可以五轴移动，支持样品侧面观察；5、探测器：Inlens、SE2、BSD和EDS；6、图像处理： 32 k × 24 k 像素；7、能谱仪的工作距离小于8.8mm；8、电制冷能谱仪，探头的有效活区面积不小20mm2。
上机要求
禁放磁性样品、液体、有机、生物、不耐热、熔融蒸发、松动粉末或碎屑等有挥发物样品！
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