通用设备检测服务-特种设备及原动设备检测服务,计算机通信和其他电子设备检测服务-电子器件检测服务,其他产品检测服务-其他产品检测服务

半导体封装、电子零部件、陶瓷、金属树脂零部件等的内部孔隙、裂纹、剥离等缺陷检测、分层检测

日立 FS200  分析软件不断进化 满足高精度需求的高分辨率SAT通过组合频率达500MHz的高灵敏度组件、高精度扫描仪与日立开发的高分辨率探头，可以检测细微的缝隙。 从大范围到极小范围，涵盖各样的试件实现高精度测量，能够扫描小间距0.5μm，在一次测量中，可以微小间距测量硅晶片、JEDEC托盘等。而且，从厚到薄，涵盖了广泛的测量对象，从而丰富了探头系列，从低频到高频均有，透射法测量的精度更高。更快更方便地获得性更高的数据通过采用高速、高精度扫描仪以及新型图像处理单元，可以在短时间内获得再现性高的数据。而且，在依据登录条件进行测量的图像索引，以及连续自动测量多个试件的网格扫描中，设置了补偿功能，可以补偿中心位置以及试件高度，从而提高了数据的性。主机开口部较宽敞，利用升降机（选购）可以快捷、方便地更换试件。

1.探头频率：5～140MHz 2.频率：500MHz 3.有效行程（X×Y×Z）：350×350×80mm 4.扫描速度：1,000mm/s 5.电源：AC100V 1550/60Hz

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