场发射扫描电子显微镜(SEM)
型号规格：Sigma 500
购买日期：2019-07-28
设备分类：分析仪器
设备小类：显微镜及图像分析仪器
制造厂商：德国蔡司
设备产地：德国
仪器状态：内外部共享
设备原值：385万
实验地址：松山湖大学创新城D2栋东莞理工科技创新研究院
服务价格：面议
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检测技术服务
无
仪器可预约以下服务
显微分析
功能描述
广泛用于材料科学（金属材料、非金属材料、纳米材料）、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害（火灾、失效分析）鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。在材料科学、金属材料、陶瓷材料半导体材料、化学材料等领域，进行各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料微区成分分析，元素定量、定性成分分析。
技术指标
1、放大倍数10-100万；2、分辨率：0.8nm@30kV STEM 、0.8nm @15 kV 、1.4 nm @1kV；3、探测器：Inlens, SE2, BSE；4、加速电压调整范围：0.02-30 kV；5、探针电流：3pA～20nA；6、样品台：5轴优中心全自动（X、Y、Z、R、T）
上机要求
培训合格后上机 样品要求：块状、薄膜样品整体尺寸小于50mm*50mm*40mm，粉末样品，所有样品送样前自行干燥。
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